Оптимизация тестирования сложных цифровых устройств

0.0

О книге

Входит в серию: Прикладная информатика. Научные статьи

В статье изложены основные принципы объединения отдельных тестовых проверок модулей, составляющих цифровое устройство, в единую тест-программу. Объединение проверок проводится при неполной информации относительно реакций неисправного устройства. Формулируются свойства оптимально упорядоченной последовательности проверок в тесте. Предлагаются эвристические алгоритмы упорядочения проверок.

Рейтинги этой книги за 2014 год за всё время
Образовательная, прикладная, научно-популярная литература 2612 17230
Среди всех книг 26818